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日本日置
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产品列表
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产品名称/型号
产品简单介绍
日本日置HIOKI 直流信号源 SS7012
直流信号源 SS7012
日本日置HIOKI 直流信号源 SS7012 信号发生和测量可同时进行 •与 HIOKI 之前的产品相比较,提高了稳定性的同时降低了成本 •用于控制信号系统(4 - 20 mA)的回路测试 •检查温度控制设备和配电情况 •可发生8种不同的热电偶信号 •是电力设备测量和生产设备维护的理想选择 •可当做电子负载使用(最大25mA DC)
日本日置打印机 9203
打印机 9203
日本日置打印机 9203 打印已存储数据的得力工具 •无论在固定时间间隔还是手动指令,都可以打印出测量数据 •自动实现诸如标准偏差计算和直方图的统计处理
电阻计 3541
电阻计 3541
电阻计 3541 宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计 •广范围测量 最低0.1μΩ(20.00mΩ),最高110MΩ •快速采样,最快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异) •补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能 •运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计 •具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可实现打印。
电阻计RM3542, RM3542-01
电阻计RM3542, RM3542-01
电阻计RM3542, RM3542-01 •实现了自动化系统中所要求的速度和高精度 •双重检查功能保证准确接触,实现可靠性测试 •可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量 •可用于制造工程中手动的取样检查
电阻计RM3543,RM3543-01
电阻计RM3543,RM3543-01
电阻计RM3543,RM3543-01 用于测试超低或低并联电阻的电阻计 •自动化系统中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率 •优越的反复测量精度 •提供高性能的接触检查功能,比较器功能和数据输出功能 •直观的用户接口,高度抗干扰性,最适用于自动一体化
微电阻计RM3544
微电阻计RM3544
微电阻计RM3544 适合手动产线和自动产线的简易微电阻计 •基本精度0.02%,最小分辨率1μΩ,最大测试电流300mA •可测范围0.000mμΩ(测试电流300mA)~3.5MΩ •通过保护端口使用的探头并提高测试电流,实现抗干扰测量 •使用比较判断灯(选件)和大音量的判断音,可在生产现场准确判断合格与否
微电阻计RM3548
微电阻计RM3548
微电阻计RM3548 可测量μΩ到MΩ的高精度便携式微电阻计 •基本精度0.02%,最小分辨率0.1μΩ,最大测试电流1A •可测范围0.0μΩ(测试电流1A)~3.5MΩ •仅需将探头接触被测物,即可简单记录,最多1000个数据 •通过间隔测量,可采集温度上升实验中的数据 •便携式,适用于维修保养以及大型产品的检查
电阻计RM3545,RM3545-01/-02
电阻计RM3545,RM3545-01/-02
电阻计RM3545,RM3545-01/-02 支持超高精度·多通道(4端子20ch) •基本精度0.006%,最小分辨率0.1μΩ,最大测量电流1A •可测范围0.00μΩ(测试电流1A)~120MΩ •使用多路转接器单元Z3003(选件)可进行多点测量(4端子20ch)和可综合判断的多路转接器功能(仅限RM3545-02) •开路端口电压20mV以下的低功率电阻测量
C测试仪 3506-10
C测试仪 3506-10
C测试仪 3506-10 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 •模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量 •提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度 •1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量 •根据BIN的测定区分容量
LCR测试仪 3511-50
LCR测试仪 3511-50
LCR测试仪 3511-50 精巧,非常专业,5ms快速测量LCR •高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) •高精度: ± 0.08% •内置比较器
LCR测试仪IM3523
LCR测试仪IM3523
LCR测试仪IM3523 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 •基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) •在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。 •内置比较器和BIN功能 •2毫秒的快速测试时间
LCR测试仪 3532-50
LCR测试仪 3532-50
LCR测试仪 3532-50 搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 •测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 •可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来
LCR测试仪 3535
LCR测试仪 3535
LCR测试仪 3535 高速LCR仪,采样率可高至120MHz •100kHz~120MHz的宽频带 •高速LCR测试(6ms/采样) •拆卸式前置放大器可选择 •为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
LCR测试仪IM3533/IM3533-01
LCR测试仪IM3533/IM3533-01
LCR测试仪IM3533/IM3533-01 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域 •基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。 •在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度比以往产品快10倍。
等效回路分析软件IM9000
等效回路分析软件IM9000
等效回路分析软件IM9000 简化回路分析 & 细化PASS/FAIL判定 •IM9000可以从5个标准模型中自动选定等效回路模型,将测量值和由分析结果得到的理想频率特征之间的差异最小化。 •可以对由一个部件和谐振锐度(机械品质因数)组成的L,C,R元件做PASS/FAIL判定。 •可以对使用压电元件谐振或电感的元件做详细的判定。
阻抗分析仪IM3570
阻抗分析仪IM3570
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 阻抗分析仪IM3570 •1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 •LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 •基本精度±0.08%的高精度测量 •适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
化学阻抗分析仪IM3590
化学阻抗分析仪IM3590
化学阻抗分析仪IM3590 用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容) •适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz ~ 200kHz的宽范围信号源 •1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查 •可测量电池的无负载状态产生的内部电阻 •最快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化 •基本精度±0.05%,零件检查到研究开发测量均可对应
HIOKI日本日置数字多用表 3237/3237-01
HIOKI日本日置数字多用表 3237/3237-01
HIOKI日本日置数字多用表 3237/3237-01 高速数字多用表(3.3ms/采样点),将时序控制响应时间减至最小,经济型 •采样速率高达300次/s(3.3ms/样点) •比较器功能提供高速合格/不合格评估 •配备外部输入输出用于时序控制 •有用的存储/调用功能,加快测量过程 •外部接口支持远程操作
HIOKI日本日置数字多用表 3238/3238-01
数字多用表 3238/3238-01
HIOKI日本日置数字多用表 3238/3238-01 高精度,多功能型 •采样速率高达300次/s(3.3ms/样点) •比较器功能提供高速合格/不合格评估 •配备外部输入输出用于时序控制 •有用的存储/调用功能,加快测量过程 •外部接口支持远程操作 •AC/DC电流及频率测量功能
HIOKI日本日置数字多用表 3239/3239-01
HIOKI日本日置数字多用表 3239/3239-01
HIOKI日本日置数字多用表 3239/3239-01 四端子测量电阻的新型DMM! •采样速率高达300次/s(3.3ms/样点) •比较器功能提供高速合格/不合格评估 •配备外部输入输出用于时序控制 •有用的存储/调用功能,加快测量过程 •外部接口支持远程操作 •AC/DC电流及频率测量功能
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